京公网安备11010802038645号京ICP备20022436号-3京EDI证京B2-20220639区块链京网信备 1101082276223860002X号针对验证效率低、人工依赖度高、测试覆盖率不足三大痛点，构建了覆盖验证全流程的四大智能系统:iModel、iSVA、iTest和iDebug大模型。革新了传统芯片验证各个环节的工作模式，在包括英伟达在内的多项学术和工业级测试中展现出卓越的性能，比当前最优秀的通用模型最高提升4~5倍，整体芯片开发效率提升超10倍。
产品数据产权归属单位：国家集成电路设计自动化技术创新中心
联系人：黄晓丽
联系方式：13186580950
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当前版本暂不支持对此种交付方式或数据格式开展数据质量验证，相关校验能力将在后续版本上线，敬请期待。
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